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分类: 公开数据 标签: 硅缺陷分析

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  • n型区熔硅辐射缺陷温度与光强依赖光谱光致发光详细分析数据集

    2025年11月28日 30 119 109

    数据集概述 本数据集为n型区熔硅（Float-Zone Silicon）材料中辐射缺陷的研究提供支持，包含基于温度和光强依赖的光谱光致发光（Photoluminescence）实验的原始数据、图表及分析文件，覆盖不同温度条件下的电学参数与光学特性数据，为半导体材料缺陷机制研究提供多维度数据基础。 文件详解 数据文件：...
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