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硅缺陷分析
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n型区熔硅辐射缺陷温度与光强依赖光谱光致发光详细分析数据集
2025年11月28日
30
16
0
数据集概述 本数据集为n型区熔硅(Float-Zone Silicon)材料中辐射缺陷的研究提供支持,包含基于温度和光强依赖的光谱光致发光(Photoluminescence)实验的原始数据、图表及分析文件,覆盖不同温度条件下的电学参数与光学特性数据,为半导体材料缺陷机制研究提供多维度数据基础。 文件详解 数据文件:...
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