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IODP_Expedition_379_Based_岩心X射线荧光化学地层分析完整数据
2025年12月6日 30 86 10
数据集概述 本数据集包含IODP第379次考察中使用便携式X射线荧光(p-XRF)技术获取的元素峰值强度变化数据,通过非破坏性方法分析岩心样本的化学组成,用于识别和划分化学地层单元。 文件详解 文件名称: PXRF-README.txt,格式:TXT,包含p-XRF技术原理、IODP考察中应用场景及数据说明的文档 文件名称:...
2025年12月6日 30 86 10