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IODP 402航次
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IODP_Expedition_402_X射线荧光分析数据集
2025年12月8日
0
55
31
数据集概述 该数据集包含IODP Expedition 402航次的X射线荧光(XRF)分析数据,通过Avaatech XRF岩心扫描仪对岩心剖面进行非破坏性元素峰值强度测量,用于识别化学地层单元,支持地质学研究。 文件详解 XRF-README.txt:TXT格式文档,介绍XRF技术原理、IODP实验室设备及数据说明...
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