数据集 - 海数据

集成电路预处理数据集ICsPreprocessedDataDataset-antriksharya

2025年5月30日 30 118 114

集成电路预处理数据集ICsPreprocessedDataDataset-antriksharya 数据来源：互联网公开数据标签：集成电路，数据预处理，数据集，电子工程，机器学习，半导体，工业数据，数据分析数据概述：该数据集包含经过预处理的集成电路相关数据，记录了集成电路生产过程中的关键参数和特征。主要特征如下：...

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半导体制造缺陷检测数据集DACONSemiconductorDefectDetectionDataset-moonsoengil

2025年5月29日 30 37 26

半导体制造缺陷检测数据集DACONSemiconductorDefectDetectionDataset-moonsoengil 数据来源：互联网公开数据标签：半导体，缺陷检测，数据集，计算机视觉，图像识别，深度学习，工业制造，质量控制数据概述：该数据集由 Dacon 平台提供，旨在用于半导体制造过程中的缺陷检测任务。主要特征如下：...

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数据2022-2023年中国半导体行业数据集-huynhtruc109

2025年5月29日 30 137 93

2022-2023年中国半导体行业数据集-huynhtruc109 数据来源：互联网公开数据标签：半导体，行业分析，数据集，市场研究，经济，芯片，供应链，技术数据概述：该数据集包含了2022年至2023年期间中国半导体行业的相关数据，记录了行业内的关键指标和发展趋势。主要特征如下：时间跨度：数据记录的时间范围为2022年至2023年。...

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半导体晶圆缺陷预测数据集SemiconductorWaferDefectPrediction-gilcamelot

2025年5月17日 30 169 119

半导体晶圆缺陷预测数据集SemiconductorWaferDefectPrediction-gilcamelot 数据来源：互联网公开数据标签：半导体, 晶圆, 缺陷检测, 机器学习, 预测模型, 质量控制, 数据分析, 制造业数据概述：该数据集包含来自半导体制造过程的晶圆缺陷检测数据，用于构建预测模型，以识别和预测晶圆的缺陷。主要特征如下：...

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半导体少数载流子寿命测试数据SemiconductorMinorityCarrierLifetimeTestData-ejaywu

2025年5月1日 30 24 23

半导体少数载流子寿命测试数据SemiconductorMinorityCarrierLifetimeTestData-ejaywu 数据来源：互联网公开数据标签：半导体, 载流子寿命, 材料科学, 电学特性, 实验数据, 数据分析, 电子工程, 物理测量数据概述：...

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泊松分布模拟数据-半导体器件特性数据集PoissonDistributionSimulationData-SemiconductorDeviceChara...

2025年4月29日 30 197 3

泊松分布模拟数据-半导体器件特性数据集PoissonDistributionSimulationData-SemiconductorDeviceCharacteristics-saankhya1997 数据来源：互联网公开数据标签：泊松分布, 半导体, 器件特性, 模拟数据, 物理建模, 数据分析, 科学研究, 实验数据数据概述：...

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半导体器件仿真数据电压与电势关系数据集SemiconductorDeviceSimulationDataVoltageandPotentialDatase...

2025年4月29日 30 196 42

半导体器件仿真数据电压与电势关系数据集SemiconductorDeviceSimulationDataVoltageandPotentialDataset-saankhya1997 数据来源：互联网公开数据标签：半导体, 仿真数据, 电压, 电势, 物理建模, 数据分析, 机器学习, 科学研究数据概述：...

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半导体晶圆图像缺陷分类数据集SemiconductorWaferImageDefectClassificationDataset-shaurya21jain

2025年4月29日 30 92 12

半导体晶圆图像缺陷分类数据集SemiconductorWaferImageDefectClassificationDataset-shaurya21jain 数据来源：互联网公开数据标签：晶圆缺陷, 图像分类, 半导体, 质量控制, 机器学习, 深度学习, 计算机视觉, 工业制造数据概述：...

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英特尔最终产品销售数据集IntelFinalProductSalesDataset-vasiliispe

2025年4月26日 30 122 102

英特尔最终产品销售数据集IntelFinalProductSalesDataset-vasiliispe 数据来源：互联网公开数据标签：英特尔，销售数据，半导体，市场分析，数据集，财务分析，机器学习，商业智能数据概述：该数据集包含英特尔公司最终产品的销售数据，用于分析其产品在市场上的表现。主要特征如下：...

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晶圆制造缺陷检测数据集WaferDefectDetectionDataset-manavpatel571

2025年4月26日 30 126 2

晶圆制造缺陷检测数据集WaferDefectDetectionDataset-manavpatel571 数据来源：互联网公开数据标签：半导体，制造业，数据集，缺陷检测，机器学习，质量控制，工业自动化，图像识别数据概述：该数据集包含来自晶圆制造过程中的缺陷检测数据，记录了半导体晶圆生产中常见的缺陷类型和分布。主要特征如下：...

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芯片制造与性能数据集ChipManufacturingandPerformanceDataset-elshabrawiii

2025年4月25日 30 182 99

芯片制造与性能数据集ChipManufacturingandPerformanceDataset-elshabrawiii 数据来源：互联网公开数据标签：芯片制造，性能测试，数据集，半导体，机器学习，工业分析，技术评估，质量控制数据概述：...

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半导体晶圆缺陷检测数据集WaferFaultDetectionDataset-subhanshubabbar

2025年4月24日 30 97 22

半导体晶圆缺陷检测数据集WaferFaultDetectionDataset-subhanshubabbar 数据来源：互联网公开数据标签：半导体，晶圆，缺陷检测，数据集，机器学习，图像处理，工业自动化，质量控制数据概述：该数据集包含来自半导体制造厂的晶圆缺陷检测数据，记录了晶圆表面的缺陷信息。主要特征如下：...

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硅晶圆传感器数据-工业质量检测数据集-freedataset011

2025年4月24日 30 164 44

硅晶圆传感器数据-工业质量检测数据集-freedataset011 数据来源：互联网公开数据标签：半导体，质量检测，数据集，传感器数据，机器学习，工业制造，数据分析，异常检测数据概述：该数据集包含来自硅晶圆生产过程中的传感器数据，用于分析和预测晶圆的质量。主要特征如下：...

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半导体晶圆制造异常检测数据集DetectingAnomaliesinWaferManufacturingDataset-abdulbaseermohammed

2025年4月24日 30 114 61

半导体晶圆制造异常检测数据集DetectingAnomaliesinWaferManufacturingDataset-abdulbaseermohammed 数据来源：互联网公开数据标签：半导体，晶圆制造，异常检测，数据集，机器学习，工业数据分析，质量控制，生产监测...

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AMD股票交易历史数据集-1969至今-zeeshanyounas001

2025年4月24日 30 167 17

AMD股票交易历史数据集-1969至今-zeeshanyounas001 数据来源：互联网公开数据标签：AMD,股票,交易,历史数据,金融,市场,半导体,处理器,图形处理器,股价数据概述：本数据集包含了自1969年Advanced Micro Devices,...

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英特尔公司股票数据集1968-2023-krupalpatel07

2025年4月23日 30 180 162

英特尔公司股票数据集1968-2023-krupalpatel07 数据来源：互联网公开数据标签：英特尔,股票,半导体,科技公司,财务数据,市场分析,公司业绩,技术发展数据概述：本数据集收录了1968年至2023年间英特尔公司（Intel...

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半导体制造过程异常检测数据集UCISECOMDataset-sihyeon3523

2025年4月23日 30 58 21

半导体制造过程异常检测数据集UCISECOMDataset-sihyeon3523 数据来源：互联网公开数据标签：半导体，制造，异常检测，数据集，机器学习，工业，质量控制，故障诊断数据概述：该数据集包含来自半导体制造过程的数据，记录了制造过程中产生的各种传感器测量值和产品质量信息。主要特征如下：...