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原发性短路
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铜芯明敷导体短路类型X射线结构分析数据集
2025年12月12日
30
116
23
数据集概述 该数据集基于X射线结构分析方法,用于判定铜芯明敷导体的短路类型(原发性/继发性)。通过分析短路点及远处样本的铜结构变化与氧化物生成情况,结合固定/旋转样本的X射线图谱特征对比,提供建筑火灾相关的技术分析依据。 文件详解 文件名称: Markov - full data.pdf 文件格式: PDF (.pdf) 内容说明:...
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