铜芯明敷导体短路类型X射线结构分析数据集

数据集概述

该数据集基于X射线结构分析方法，用于判定铜芯明敷导体的短路类型（原发性/继发性）。通过分析短路点及远处样本的铜结构变化与氧化物生成情况，结合固定/旋转样本的X射线图谱特征对比，提供建筑火灾相关的技术分析依据。

文件详解

• 文件名称: Markov - full data.pdf
• 文件格式: PDF (.pdf)
• 内容说明: 包含X射线结构分析方法的完整资料，涉及样本采集规范（短路点及50-100mm处取两个样本）、分析流程（固定/旋转样本各进行一次X射线检测）、短路类型判定标准（基于Cu衍射斑点大小及Cu₂O、CuO、Cu谱线强度对比）等核心内容。

数据来源

保加利亚内务部消防和消防保护总局研究与专业知识中心“专业知识和技术信息”部门

适用场景

• 火灾事故调查: 判定铜芯明敷导体短路类型，辅助分析火灾起因
• 电气安全研究: 研究铜导体短路的物理化学变化机制
• 消防技术应用: 为消防机构提供短路类型鉴定的技术参考
• 材料科学分析: 分析铜及铜氧化物在短路高温下的结构变化规律