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标签: 激光诱导损伤阈值分析

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  • Si3N4薄膜缺陷二次谐波显微检测数据集

    2025年12月12日 30 78 38

    数据集概述 本数据集为期刊论文配套实验数据，核心内容是使用TESCAN VEGA 3扫描电子显微镜（SEM）对激光诱导损伤阈值（LIDT）样品进行测量的原始实验数据，支持Si3N4薄膜缺陷的二次谐波显微检测研究。 文件详解 文件名称: Open_data.zip 文件格式: ZIP（压缩包） 内容说明:...
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