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标签: 缺陷图像

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  • Carinthia半导体晶圆缺陷扫描电镜图像数据集

    2025年12月14日 30 116 112

    数据集概述 本数据集包含非结构化半导体晶圆某一生产层缺陷的扫描电镜（SEM）图像，共四千五百九十一幅图像，不均匀分布于六个缺陷类别，为半导体生产缺陷分析提供视觉数据支持。 文件详解 文件名称: data.zip：压缩包格式，包含所有半导体晶圆缺陷的扫描电镜图像数据。 文件名称:...
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