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  • IPI_Based_半导体失效分析实验室内部物理检测流程数据

    2026年2月9日 30 208 139

    数据集概述 本数据集为半导体行业失效分析（FA）实验室的内部物理检测（IPI）流程数据，涵盖2020年1月至2022年12月的作业与任务信息。包含作业唯一ID、时间节点、设备类型、样本数量，以及任务的工时、资源（设备、操作员）等核心字段，支撑半导体检测流程的分析与优化。 文件详解 文件名称：DataSetDescription.docx...
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