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  • ATLASPix2_Laboratory_CV测量特性表征数据2019

    2026年1月26日 30 203 190

    数据集概述 本数据集包含ATLASPix2芯片在实验室环境下的CV（电容-电压）测量数据，用于芯片特性表征。数据来自相关研究论文，涵盖辐照与非辐照、不同退火条件及温度下的测量结果，共92个文件，支持半导体器件电特性分析。 文件详解 CSV文件（85个） 文件名称：遵循实验条件命名模式，如《NonIrrad 1k, 10k, 100k, 1M...
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