数据集概述
本数据集包含ATLASPix2芯片在实验室环境下的CV（电容-电压）测量数据，用于芯片特性表征。数据来自相关研究论文，涵盖辐照与非辐照、不同退火条件及温度下的测量结果，共92个文件，支持半导体器件电特性分析。
文件详解
- CSV文件（85个）
- 文件名称：遵循实验条件命名模式，如《NonIrrad 1k, 10k, 100k, 1M 20degC_AP2TSINonIrradS31_-2.csv》《C-V ATLASPix2 5_3_2019 10_27_19 AM.csv》
- 文件格式：CSV
- 字段映射介绍：包含实验设置信息（SetupTitle、TestParameter名称如Anode、VacStart、VacStop、VacStep、OscLevel、FREQ、IntegTime等）及对应测量值（Valu）
- XLSX文件（7个）
- 文件名称：遵循实验条件命名模式，如《C-V Apr2019 Irrad Annealed80M60C ATLASPix2.xlsx》《C-V Apr2019 Non-Irrad ATLASPix2.xlsx》
- 文件格式：XLSX
- 字段映射介绍：内容与CSV文件一致，包含实验参数及测量值
数据来源
论文（DOI: 10.1088/1748-0221/15/05/P05022）
适用场景
- 半导体芯片电特性分析: 研究ATLASPix2芯片的电容-电压特性，评估器件性能
- 辐照效应研究: 对比辐照与非辐照条件下芯片的CV特性变化
- 退火工艺优化: 分析不同退火条件对芯片电特性的影响
- 温度依赖性分析: 探究温度因素对ATLASPix2芯片CV特性的作用机制
- 半导体器件建模: 为ATLASPix2芯片的电特性建模提供实验数据支持
