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ZrN_Nucleation_Layer_Based_GaN纳米线背面欧姆接触实验数据_Repository
2025年12月29日 30 132 57
数据集概述 本数据集为ZrN成核层提供MBE生长GaN纳米线背面欧姆接触相关实验数据，包含扫描电镜（SEM）图像与电流-电压（IV）特性数据，对应研究中的图4至图7内容，用于支撑半导体纳米线电学接触性能的研究。 文件详解 文件名称：SEM_IV_characteristics (Figures 4 - 7).xlsx 文件格式：XLSX...
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