ADAQ_SYM缺陷轨道自动对称性分析数据集

数据集概述

本数据集包含用于半导体点缺陷轨道对称性分析的工具代码。该工具基于平面波密度泛函理论模拟，可计算轨道特征标、识别不可约表示并通过选择规则判断允许的光学跃迁，已在金刚石及4H-SiC缺陷研究中验证有效性。

文件详解

• 文件名称：ADAQ-SYM-code.zip
• 文件格式：ZIP压缩包（.zip）
• 内容说明：包含ADAQ-SYM软件工具的代码文件，用于实现缺陷轨道对称性分析功能，支持计算轨道特征标、不可约表示识别及光学跃迁允许性判断。

适用场景

• 半导体缺陷研究：分析金刚石、4H-SiC等材料中点缺陷的轨道对称性
• 量子技术开发：支撑单光子发射器、量子比特等量子器件的缺陷行为研究
• 光学性质分析：探究缺陷系统与偏振光的相互作用及零声子线偏振特性
• 材料计算工具开发：为密度泛函理论模拟后的对称性分析提供自动化工具支持