薄膜晶格参数与应变测定程序WVM数据集

数据集概述

本数据集包含用于测定薄膜晶格参数与应变的计算机程序WVM，基于X射线衍射原理，通过测量反射位置计算无应变晶格参数及应变张量，解决多晶薄膜应变分析的核心问题。

文件详解

• 文件名称：addm_v1_0.gz
• 文件格式：压缩文件（.gz）
• 文件内容：包含WVM计算机程序主体，用于从X射线反射位置数据计算多晶薄膜的应变张量与无应变晶格参数

数据来源

CPC Program Library（Queen's University Belfast）、Mendeley Data

适用场景

• 材料科学研究：分析薄膜材料的晶格结构与应变状态
• 薄膜技术开发：优化薄膜制备工艺参数
• X射线衍射数据分析：辅助多晶薄膜的结构表征与性能关联研究
• 固体物理实验：验证薄膜应变理论模型的实际应用效果