数据集概述
本数据集包含论文《Excising dead components in the surface code using minimally invasive alterations: A performance study》的电路文件与模拟数据，用于支持表面码死组件切除策略的性能分析，涉及量子纠错（QEC）模拟的电路配置与结果数据。
文件详解
该数据集包含5个文件，具体说明如下：
- 电路文件包：
- single_dead_circuits.zip：压缩文件，包含图2所用电路，解压后为circuit_{circuit_index}.txt格式文件，对应single_dead_data.csv中的circuit_index列
- distribution_circuits.zip：压缩文件，包含图3-5所用电路，解压后为circuit_{circuit_index}.txt格式文件，对应distribution_data.csv中的circuit_index列
- 模拟数据文件：
- single_dead_data.csv：CSV格式，记录单死组件场景的模拟数据，字段包括circuit_index（电路索引）、L（表面码尺寸）、BCs（边界条件）、dead_qubits（死 qubits 配置）、p_physical（物理错误率）、median（中位逻辑错误率）等
- distribution_data.csv：CSV格式，记录死组件分布场景的模拟数据，字段与single_dead_data.csv一致
- 配置文件：
- selected_configs.csv：CSV格式，包含图3-5所用的死 qubit 配置数据
适用场景
- 量子纠错码研究：分析表面码中死组件切除策略对逻辑错误率的影响
- 量子电路性能评估：对比不同死组件分布场景下的量子电路容错能力
- 量子算法优化：为量子纠错解码器设计提供实验数据支持
- 量子计算可靠性分析：研究物理错误率与逻辑错误率的关联规律
