数据集概述
该数据集聚焦于体硅CMOS技术逻辑电路中单事件多瞬态（Single Event Multiple Transients）发生可能性的量化研究，包含65nm平面晶体管（2D和3D）的器件模拟原始数据、仿真模板、CSV文件及自动化Python脚本，为相关电路可靠性分析提供支持。
文件详解
- 压缩文件:
- upload.tar.gz: GZIP压缩格式，包含数据集全部内容，内部可能包含：
- 65nm平面晶体管（2D和3D）的器件模拟原始数据文件
- 器件命令文件、仿真模板文件及CSV格式参数文件
- 用于运行Sentaurus器件仿真的Python脚本（如Python_generate_sdevice_runsim.py、python_current.py等）
- 用于数据后处理的Python脚本（如python_post-process_250p_limit.py、python_combine_2csv.py等）
数据来源
Dept of EE, IIT Bombay, Mumbai, India
适用场景
- 电路可靠性研究: 分析CMOS逻辑电路中单事件多瞬态的发生机制与可能性
- 半导体器件仿真: 基于Sentaurus工具开展65nm晶体管的单事件效应模拟
- 自动化仿真流程开发: 参考Python脚本实现器件仿真与数据处理的自动化
- 辐射效应分析: 探究辐射环境对CMOS电路性能的影响及防护策略
