从实验束箔强度衰减数据中提取辐射寿命的程序

数据集概述

本数据集包含一个用于从实验束箔强度衰减数据中提取辐射寿命的程序，通过迭代过程求解卡方最小值，将数据分解为指数项之和并确定参数值及标准差估计，适用于相关实验数据的分析处理。

文件详解

• 文件名称: aaed_v1_0.gz
• 文件格式: GZ压缩包 (.gz)
• 内容说明: 压缩包内包含用于分析实验束箔强度衰减数据的程序文件，核心功能为将数据分解为指数项之和，确定振幅、寿命参数及标准差估计，采用迭代求解卡方最小值的方法

数据来源

CPC Program Library（Queen's University Belfast，1969-2019）、Mendeley Data

适用场景

• 核物理实验数据分析: 处理束箔强度衰减实验数据，提取辐射寿命参数
• 光谱学研究: 分析原子或分子辐射寿命相关的实验数据
• 实验数据处理方法验证: 验证指数项分解及参数估计算法的有效性
• 核科学计算工具开发: 作为辐射寿命提取模块集成到相关数据分析系统中