低能电子衍射强度图案对称化与计算数据集

数据集概述

本数据集围绕低能电子衍射（LEED）强度图案的对称化与计算展开，核心为解决LEED实验中晶体-覆盖层结构单胞组成的计算问题，包含程序相关的修正说明与压缩格式的源文件。

文件详解

• 文件名称: Symmetrization and calculation of LEED intensity patterns/ackg_v1_0.gz
• 文件格式: GZ压缩文件（.gz）
• 内容说明: 包含程序源代码，其中嵌入了1975年12月9日的未发表修正说明，涉及LEED强度图案对称化与计算的修正指令

数据来源

CPC Program Library（Queen's University Belfast，1969-2019）、Mendeley Data

适用场景

• 低能电子衍射（LEED）实验数据分析: 用于晶体-覆盖层结构单胞组成的计算
• 材料科学研究: 辅助解析晶体表面结构的衍射强度图案
• 计算物理方法验证: 验证LEED强度图案对称化算法的有效性
• 历史计算程序复现: 复现1975年相关LEED计算程序的功能与修正逻辑