数据集概述
该数据集为论文《Assessment of the errors of high-fidelity two-qubit gates in silicon quantum dots》的配套数据与分析文件，包含实验数据、Python/Matlab分析脚本、图表文件及报告文档，支持复现硅基量子点两量子比特门误差评估的研究结果，需PyGSTi工具运行部分文件。
文件详解
- 实验数据文件：
- GSTdataset_parity_DeviceB_28574.txt：TXT格式，含两量子比特门误差实验数据，字段包括e count（e计数）、o count（o计数）及量子操作序列标识
- GSTdataset_parity_DeviceA_3110.txt：TXT格式，结构与上述文件一致，对应Device A的实验数据
- 分析代码文件：
- 2Q_GST_Parity_Readout_Demo_Script 1.py：Python格式，两量子比特门误差分析演示脚本
- 图表文件：
- Figure1.pdf、FigureExtended1-5.pdf、FigureSupplementary1.pdf、FigureSupplementary2.png：共10个PDF/PNG文件，包含研究中的核心图表与补充图表
- 报告文档：
- Device A GST report.html、Device B GST report.html：HTML格式，Device A与Device B的量子门集层析（GST）分析报告
- 压缩包文件：
- raw_figure_data.zip、analysisFiles.zip、AncillaryFiles.zip：共3个ZIP格式压缩包，包含原始图表数据、分析文件及辅助文件
适用场景
- 量子计算研究：分析硅基两量子比特门的误差特性与变异规律
- 量子门集层析（GST）方法验证：复现论文中基于GST的量子门误差评估流程
- 量子器件性能分析：对比不同硅基量子器件（Device A/B）的两量子比特门保真度
- 量子计算实验复现：基于数据集复现硅基量子比特门误差评估的实验结果
