固体核径迹探测器蚀刻轨迹轮廓计算Java代码

数据集概述

本数据集包含一个基于Java开发的代码工具，用于计算离子辐照固体核径迹探测器（SSNTDs）的化学蚀刻轨迹轮廓参数。代码集成用户友好的GUI界面，采用惠更斯原理进行数值计算，支持垂直和倾斜入射场景，可对比实验数据优化参数。

文件详解

• 文件名称: TrackEtching.tar.gz
• 文件格式: GZIP压缩包 (.gz)
• 文件内容: 包含一个完整的Java代码项目，集成用户友好的GUI界面，用于计算离子辐照固体核径迹探测器的化学蚀刻轨迹轮廓参数。代码基于惠更斯原理进行数值计算，支持垂直和倾斜入射场景，可对比实验数据优化参数。

适用场景

• 核物理研究: 用于计算和分析固体核径迹探测器（SSNTDs）中离子辐照后的化学蚀刻轨迹轮廓参数。
• 辐射探测技术: 优化探测器蚀刻条件，提高辐射粒子的探测效率和精度。
• 材料科学研究: 研究不同材料在离子辐照下的蚀刻行为和轨迹形成机制。
• 实验数据验证: 通过数值模拟结果与实验数据对比，优化蚀刻模型参数。