核径迹材料蚀刻坑参数计算与剖面绘制程序TRACK_TEST

数据集概述

本数据集包含TRACK_TEST计算机程序，用于计算核径迹材料中蚀刻坑的长轴、短轴等参数，并绘制其剖面。程序基于轻离子辐照及化学蚀刻后的径迹生长原理，支持α粒子等轻离子相关的核径迹分析，为核材料辐照效应研究提供工具支持。

文件详解

• 文件名称：adwt_v1_0.tar.gz
• 文件格式：压缩包（.tar.gz）
• 文件内容：包含TRACK_TEST程序的完整代码及相关资源，具体文件结构需解压后查看。程序功能包括α粒子射程计算、蚀刻剂沿粒子轨迹渗透距离测定、径迹坐标计算、蚀刻坑长轴与短轴长度测定等。

数据来源

CPC Program Library（Queen's University Belfast）、Mendeley Data

适用场景

• 核材料研究：分析轻离子辐照后核径迹材料的蚀刻坑形态参数
• 辐射探测技术：优化核径迹探测器的蚀刻工艺参数
• 粒子物理实验：辅助计算α粒子等轻离子在介质中的轨迹及蚀刻特性
• 材料辐照效应分析：研究核径迹材料的损伤与蚀刻行为关联