角分辨价带光电子能谱的能带偏移数据集

数据集概述

本数据集包含角分辨价带（VB）光电子能谱的原始数据，用于研究半导体表面和界面的能带偏移（ϕ₀）。数据支持一种新的VB信号拟合方法，可替代传统前沿法，提升测量精度，适用于拓扑超导相关系统（如InSb、InAs等）的能带偏移分析。

文件详解

• 文件名称: data_availability.zip
• 文件格式: ZIP压缩包
• 内容说明: 包含ARPES（角分辨光电子能谱）和XPS（X射线光电子能谱）的原始数据，用于论文中提出的能带偏移测定方法验证及相关系统（如InSb(110)、InAs(111)等）的能带偏移计算。

适用场景

• 半导体界面物理研究：分析拓扑超导相关系统（如InSb/Al）的能带偏移特性
• 光电子能谱方法优化：验证角分辨价带光电子能谱拟合方法的精度与适用性
• 量子器件设计：为基于能带偏移的量子器件（如超导/半导体异质结）提供实验数据支持
• 材料表征技术改进：对比传统前沿法与新方法在能带偏移测量中的差异