空间选择性结晶_铁电Hf0_5Zr0_5O2薄膜亚纳秒激光退火实验数据

数据集概述

本数据集为论文“Spatially selective crystallization of ferroelectric Hf0.5Zr0.5O2 films induced by sub-nanosecond laser annealing”的配套数据,包含铁电Hf0.5Zr0.5O2薄膜经亚纳秒激光退火后空间选择性结晶相关的实验数据,共3个压缩文件,支持材料科学领域对铁电薄膜结晶特性的研究。

文件详解

  • 微衍射数据(Micro Diffraction.zip)
  • 文件名称:Micro Diffraction.zip
  • 文件格式:ZIP(压缩包)
  • 字段映射介绍:包含铁电Hf0.5Zr0.5O2薄膜亚纳秒激光退火后的微衍射实验数据,具体内容需解压后查看
  • X射线光电子能谱数据(XPS.zip)
  • 文件名称:XPS.zip
  • 文件格式:ZIP(压缩包)
  • 字段映射介绍:包含铁电Hf0.5Zr0.5O2薄膜的X射线光电子能谱实验数据,具体内容需解压后查看
  • X射线衍射数据(XRD.zip)
  • 文件名称:XRD.zip
  • 文件格式:ZIP(压缩包)
  • 字段映射介绍:包含铁电Hf0.5Zr0.5O2薄膜亚纳秒激光退火后的X射线衍射实验数据,具体内容需解压后查看

数据来源

论文“Spatially selective crystallization of ferroelectric Hf0.5Zr0.5O2 films induced by sub-nanosecond laser annealing”

适用场景

  • 铁电薄膜材料结晶特性研究:分析亚纳秒激光退火对Hf0.5Zr0.5O2薄膜空间选择性结晶的影响机制
  • 材料表征技术应用:利用微衍射、XPS、XRD数据开展铁电薄膜的结构与成分表征
  • 激光退火工艺优化:基于实验数据优化铁电薄膜亚纳秒激光退火的工艺参数
  • 铁电材料应用开发:为铁电Hf0.5Zr0.5O2薄膜在电子器件中的应用提供实验数据支撑
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数据与资源

附加信息

字段
作者 Maxj
版本 1
数据集大小 0.68 MiB
最后更新 2026年1月22日
创建于 2026年1月22日
声明 当前数据集部分源数据来源于公开互联网,如果有侵权,请24小时联系删除(400-600-6816)。