数据集概述
该数据集包含使用Accurion EP4椭偏仪对蓝宝石衬底上剥离的GaS材料进行成像椭偏测量的结果，覆盖波长范围为200纳米至900纳米，记录了Delta和Psi参数的映射数据，以及增强对比度显微图和特定能量下的参数图谱。
文件详解
- 数据文件（.dat格式，共100个）：
- 命名示例：ACC1_GaS_Sapphire_Pos1_Psi_AOI=50.0°_Lambda=520.0nm.dat、ACC1_GaS_Sapphire_Pos1_Delta_AOI=50.0°_Lambda=810.0nm.dat
- 内容：记录不同波长（200nm至900nm）下的Psi（椭偏角）和Delta（相位差）测量数据，固定入射角为50.0°
- 图像文件（.jpg格式，共11个）：
- 核心文件：map.jpg（测量区域的椭偏增强对比度显微图）
- 图谱文件：如Psi_2.495eV.jpg、Delta_3.0244eV.jpg，包含2eV、2.5eV、3eV、3.2eV、3.5eV等特定能量对应的Psi和Delta参数映射图谱
适用场景
- 二维材料光学特性研究：分析GaS材料的椭偏参数随波长的变化规律
- 材料表征：通过Delta和Psi映射数据研究GaS薄膜的均匀性与结构特性
- 纳米材料光学测量方法验证：验证成像椭偏技术在二维材料表征中的应用效果
- 半导体材料研发：为GaS基光电器件设计提供光学参数数据支持
