MeV_SIMS辐照对分子特征影响分析数据集

数据集概述

本数据集聚焦MeV二次离子质谱(MeV SIMS)技术,研究MeV离子束辐照对生物组织分子特征的影响,涉及质子束治疗应用及分子成像优化,探索MALDI基质对辐照损伤的缓解作用。

文件详解

  • 文件名称: data.zip
  • 文件格式: ZIP压缩包
  • 内容说明: 未提供具体字段信息,可能包含实验原始数据或处理后的数据集
  • 文件名称: ELOG - MeV SIMS analysis of irradiation effects on molecular signatures (1).pdf
  • 文件格式: PDF
  • 内容说明: 实验日志文档,可能记录MeV SIMS辐照实验的操作流程、参数设置或初步结果
  • 文件名称: ELOG - MeV SIMS analysis of irradiation effects on molecular signatures (2).pdf
  • 文件格式: PDF
  • 内容说明: 实验日志文档,可能补充记录实验数据、分析方法或结果讨论

适用场景

  • 质子束治疗研究: 分析MeV离子束辐照对生物组织的影响,优化癌症治疗方案
  • 分子成像技术开发: 评估MeV SIMS作为生物组织分子成像替代技术的可行性
  • 辐照损伤机制研究: 探索MALDI基质对质子束诱导损伤的缓解作用及分子保护机制
  • 质谱成像技术对比: 对比MeV SIMS与DESI、MALDI等技术在生物分子分析中的性能差异
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数据与资源

附加信息

字段
作者 Maxj
版本 1
数据集大小 1.24 MiB
最后更新 2025年12月12日
创建于 2025年12月12日
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