纳米级残余应力深度剖面聚焦离子束铣削与特征应变分析数据集

数据集概述

该数据集围绕纳米级残余应力深度剖面展开，包含通过聚焦离子束铣削与特征应变分析获取的FIB-DIC多微环芯铣削应变实验数据，为相关领域研究提供实验数据支持。

文件详解

• 文件名称: DATA_Nanoscale RS Depth Profiling FIB Eigenstrain.xlsx
• 文件格式: Excel (.xlsx)
• 内容说明: 包含聚焦离子束铣削（FIB）与特征应变分析相关的纳米级残余应力深度剖面实验数据，具体字段信息需通过文件内容进一步确认

适用场景

• 材料科学研究：分析纳米级残余应力分布规律
• 机械工程实验：研究聚焦离子束铣削工艺对材料应力的影响
• 特征应变分析：探索纳米尺度下材料应变与应力的关联机制
• 精密制造领域：优化聚焦离子束铣削工艺参数以控制残余应力