NASAIGBT加速老化实验数据集-2011-vignesh9147
数据来源：互联网公开数据
标签：IGBT,加速老化,热应力,电源开关,温循实验,电气特性,科学实验,数据,研究
数据概述：
本数据集包含NASA进行的IGBT（绝缘栅双极型晶体管）加速老化实验收集的数据。实验旨在模拟实际使用中极端条件下的IGBT行为，通过热应力测试和不同类型的栅极信号（直流和方波）对IGBT进行老化。数据集分为多个文件夹，每个文件夹包含特定实验条件下的数据，以及相关电学特性参数的测量结果。
数据用途概述：
该数据集适用于电源电子设备可靠性研究、IGBT老化机制分析、电气特性测试以及高可靠性器件设计等场景。研究人员可以利用这些数据评估IGBT在极端环境下的性能变化和失效模式；设计人员可以参考这些数据优化器件设计，提高产品耐用性；教育工作者可以利用这些数据进行高可靠电源电子学的教学与研究。
文件夹描述：
1) 热应力老化实验（直流信号）
此文件夹包含采用直流信号对IGBT进行热循环老化实验的数据。实验通过施加高电压至栅极，直至红外传感器检测到的温度超过设定阈值后关闭栅极电压。数据分析显示，器件因闩锁效应而失效，在关闭过程中尾电流（集电极电流）的变化是失效前的先兆。该文件夹记录了单个IGBT的加速老化数据，更多详情请参阅文件夹内的readme文件。
2) 热应力老化实验（方波信号）
此文件夹包含采用方波信号对IGBT进行热循环老化实验的数据。实验旨在模拟实际切换操作中的极端条件，采集了器件开关过程中的瞬态数据。该实验有助于研究IGBT在远超安全工作区的条件下的行为。文件夹内记录了单个IGBT的加速老化数据，并作为技术论文《一种用于栅控功率晶体管的敏捷老化、表征和场景仿真系统》（Sonnenfeld, Goebel, Celaya, “An Agile Accelerated Aging, Characterization and Scenario Simulation System for Gate Controlled Power Transistors”, IEEE Autotestcon 2008）的数据基础，更多详情请参阅文件夹内的readme文件。
3) 热应力老化实验（方波信号和SMU数据）
此文件夹包含采用方波信号对IGBT进行热循环老化实验的数据。实验采集了器件开关过程中的瞬态数据，但由于开关速度控制难度，部分瞬态数据（集电极电流、栅极电压和集电极-发射极电压的高速测量）未被完全捕获。此外，由于缺乏电压分压器校正，低速（滤波后）数据的量程超出范围。该文件夹记录了4个IGBT的加速老化数据，并包含来自源测量单元（SMU）的阈值电压、击穿电压和漏电流的电气特性数据，更多详情请参阅文件夹内的readme文件。
4) 新器件的SMU数据
此文件夹包含40个全新MOSFET（IRF520Npbf和IRG4BC30K）的电气特性数据。测试的参数包括阈值电压、击穿电压和漏电流。更多详情请参阅文件夹内的readme文件。
