铌薄膜结构对超导电路损耗影响数据集

数据集概述

本数据集围绕铌薄膜结构对超导电路损耗的影响展开，包含支撑相关研究的实验或分析数据，以压缩包形式存储，为探究材料结构与超导性能关系提供数据支持。

文件详解

• 文件名称: dataForNbPaper.zip
• 文件格式: ZIP (.zip)
• 内容说明: 该压缩包为数据集的唯一文件，未提供内部文件结构及字段信息，具体内容需解压后查看

适用场景

• 超导材料研究: 分析铌薄膜结构参数与超导电路损耗的关联
• 电子工程应用: 探究超导电路性能优化的材料结构方向
• 材料科学实验: 验证薄膜制备工艺对超导特性的影响机制