PARPLE_发光映射自动化并行评估程序

数据集概述

该数据集包含PARPLE程序，用于对发光映射进行自动化并行评估，可分析薄膜半导体的光电子、光学和化学特性，提取光致发光产率、准费米能级分裂、光学带隙等关键参数。

文件详解

• 文件名称: aewj_v1_0.tar.gz
• 文件格式: GZ压缩包（.gz）
• 内容说明: 包含PARPLE程序的完整文件，用于光致发光（PL）光谱评估及光电子特性提取，支持自适应拟合处理光谱偏移

数据来源

Queen's University Belfast CPC Program Library (1969-2018)

适用场景

• 半导体材料研究: 分析薄膜半导体的光电子特性不均匀性
• 光学性能表征: 提取光致发光产率、准费米能级分裂等关键参数
• 材料缺陷分析: 研究带隙内缺陷态引起的吸收特性
• 发光光谱处理: 应用自适应拟合程序处理光谱偏移问题