数据集概述
本数据集为像差校正透射电子显微镜结合Zernike相位板研究的原始数据,包含电子显微镜图像和能谱数据,对应发表于Ultramicroscopy的相关研究。数据集以压缩包形式提供,无目录层级,未划分训练/测试或原始/处理数据,无自述文件或内容预览。
文件详解
- 文件名称:RawDataZPP_HRTEM.zip
- 文件格式:ZIP
- 字段映射介绍:压缩包内含像差校正透射电子显微镜结合Zernike相位板研究的原始电子显微镜图像和能谱数据,具体字段未通过预览提供,需解压后查看原始数据内容。
数据来源
Ultramicroscopy发表的“aberration-corrected transmission electron microscopy with Zernike phase plates”相关研究
适用场景
- 电子显微镜成像技术研究:用于分析像差校正与Zernike相位板结合对透射电子显微镜成像质量的影响。
- 材料微观结构表征:利用原始电子显微镜图像研究材料的纳米级微观结构、晶体缺陷等特征。
- 能谱数据分析:通过原始能谱数据探究材料的元素组成及分布规律。
- 电子显微镜方法学优化:为像差校正透射电子显微镜实验参数优化、数据处理流程开发提供原始数据支持。