SATMET_LEAP_5000_XS_Fe_Cr合金质谱对比分析数据

数据集概述

本数据集对比了两种原子探针设备（安装于TEM的SATMET与LEAP 5000 XS）对Fe-51.4Cr（原子百分比）合金的质谱分析结果，记录了不同设备的分析条件及采集事件数，为材料成分分析提供对比数据支持。

文件详解

• 文件名称：SDM_repository.xlsx
• 文件格式：XLSX
• 字段映射介绍：包含两种原子探针设备（SATMET、LEAP 5000 XS）的分析条件参数，涉及材料类型、分析温度、脉冲重复频率、采集事件数量等核心分析指标。

数据来源

Groupe de Physique des Matériaux UMR 6634（Saint Etienne du Rouvray, France）

适用场景

• 材料分析设备性能对比: 用于分析SATMET与LEAP 5000 XS在合金质谱检测中的差异与适用性。
• 合金成分分析: 基于Fe-51.4Cr合金的质谱数据，研究合金的成分分布特征。
• 分析条件优化: 探究不同脉冲重复频率等参数对质谱分析结果的影响，优化检测条件。
• 材料科学研究: 为原子探针技术在材料科学领域的应用提供实验数据参考。