数据集概述
该数据集包含250nm横向周期、约160nm波纹振幅的锯齿形硅基底（ST Si）的原子力显微镜（AFM）表征数据，涵盖原始与处理后的图像及轮廓数据，用于研究高波纹薄膜的磁化反转机制。
文件详解
该数据集包含4个文件，具体说明如下：
- 原始数据文件:
- VGroove_S02_RDG_00057_20220621_154802.gwy: GWY格式文件，可能为AFM原始数据
- VGroove_S02_RDG_00057_20220621_154802.nid: NID格式文件，可能为AFM实验配置或原始数据相关文件
- 处理后数据文件:
- VGroove_S02_RDG_00057_Mean_Profile.png: PNG格式图像文件，展示平均轮廓可视化结果
- VGroove_S02_RDG_00057_Mean_Profile.txt: TXT格式文本文件，包含平均轮廓数据，字段映射为x（米）、y（米）
适用场景
- 材料科学研究: 分析高波纹薄膜的表面形貌特征与磁化反转机制的关联
- 纳米技术表征: 研究锯齿形硅基底的周期性结构对薄膜磁性能的影响
- 原子力显微镜数据分析: 验证AFM原始数据处理方法及轮廓提取算法的有效性
- 磁学性能模拟: 为高波纹薄膜磁化反转过程的数值模拟提供实验数据支持
