SIP_Based_饱和硅砂光谱诱导极化特征影响因素实验数据

数据集概述

本数据集包含25个饱和硅砂样品的光谱诱导极化（SIP）实验完整数据，记录了不同Cu/Na浓度比、pH值和离子强度条件下样品的实电导率、正交电导率及相位光谱特征，可用于分析环境因素对岩土材料电学特性的影响机制。

文件详解

• 文件名称：SIP_spectra.xlsx
• 文件格式：XLSX
• 字段映射介绍：包含25个饱和硅砂样品的实验数据，按实验组划分后整合，涵盖实电导率、正交电导率和相位的完整光谱信息，对应不同Cu/Na浓度比、pH值和离子强度的实验条件。

适用场景

• 岩土材料电学特性研究: 分析Cu/Na浓度比、pH值和离子强度对饱和硅砂光谱诱导极化特征的影响规律。
• 环境岩土工程实验分析: 探究电解质条件变化下饱和砂体的电导率及相位响应机制。
• 光谱诱导极化技术应用: 验证SIP技术在岩土材料理化性质检测中的有效性与敏感性。
• 地质工程参数优化: 为基于电学特性的岩土工程检测方法提供实验数据支撑。