数据集概述
该数据集通过透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM）观察填料与QI颗粒的晶体应变，核心围绕加工工艺与晶粒尺寸的影响展开。包含多种样品的显微图像文件，为研究材料微观结构与性能关系提供数据支持。
文件详解
- 目录结构：数据集包含一个名为TEM/的目录，所有文件均存储于此目录下
- 主要文件类型及内容：
- .tif格式文件（29个）：如TEM/IG-110-Alpha-5-Beta-5.tif、TEM/IG-110-Filler_Rad_1.tif等，为不同实验条件下填料与QI颗粒的TEM原始显微图像
- .tif 2格式文件（14个）：如TEM/AXF-5Q.tif 2、TEM/2114-QI_Rad.tif 2等，推测为原始图像的衍生文件
- .png格式文件（1个）：TEM/Figure-4-SEM.png，为SEM显微图像文件
- .png 2格式文件（1个）：TEM/Figure-4-SEM.png 2，推测为SEM图像的衍生文件
- 命名规则：部分文件包含实验样品编号（如2114）、实验参数（如Alpha-5-Beta-5）、样品类型（如Filler、QI）等语义关键词
适用场景
- 材料科学研究：分析加工工艺对填料与QI颗粒晶体应变的影响
- 微观结构表征：探究晶粒尺寸与晶体应变的关联机制
- 电子显微技术应用：验证TEM/SEM在颗粒材料应变观察中的技术方法
- 工业材料优化：为填料与QI颗粒相关产品的生产工艺改进提供微观结构数据支持
