退火气氛对四元靶溅射制备CIGS薄膜性能影响数据集

数据集概述

本数据集围绕四元靶溅射无额外硒化法制备光伏用Cu(InGa)Se2(CIGS)薄膜展开,对比分析无硒与含硒气氛退火对薄膜形貌、成分、电学性能及复合机制的影响,揭示硒损失降低器件效率的关键原因。

文件详解

  • 文本数据文件(.txt格式,共19个):
  • 包含Se-free_annealing.TXT、Se-containing_atmosphere.TXT等文件,记录薄膜性能测试的原始数据
  • 字段示例(以138K.txt为例):包含电压(Voltage_1)、电流(Current_1)等电学测试数据
  • 文档文件(.pdf格式,共5个):
  • 包含Se-free_annealing-1.pdf、Se-containing_annealing-2.pdf等文件,为实验相关的文档资料

适用场景

  • 光伏材料研究:分析退火气氛对CIGS薄膜性能的调控机制
  • 半导体器件开发:优化无硒化CIGS薄膜的制备工艺参数
  • 材料表征分析:探究硒损失对薄膜电学性能及界面复合行为的影响
  • 新能源技术应用:为低成本光伏器件的性能提升提供数据支撑
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数据与资源

附加信息

字段
作者 Maxj
版本 1
数据集大小 0.25 MiB
最后更新 2025年12月11日
创建于 2025年12月11日
声明 当前数据集部分源数据来源于公开互联网,如果有侵权,请24小时联系删除(400-600-6816)。