数据集概述
本数据集包含论文《ALD growth of ultra-thin Co layers on the topological insulator Sb2Te3》相关的所有图表原始数据，涉及超薄Co层在Sb2Te3上的原子层沉积（ALD）生长实验及表征结果，为相关材料研究提供数据支持。
文件详解
- 图表数据文件（.opju格式，共5个）：
- Fig1_XRR.opju、Fig2(b)_AFMofCo-SbTe.opju、Fig3_GrowthRate.opju、Fig4_GIXRD.opju、FigS4_XRR_barePtsubstrate.opju：可能为OriginPro软件生成的实验数据文件，对应X射线反射率（XRR）、原子力显微镜（AFM）、生长速率、 grazing incidence X射线衍射（GIXRD）等实验数据
- 光谱与晶体结构文件（无扩展名或.cif格式，共4个）：
- Fig5(Left)_1155_BB_Sb2Te3(Sum spectra)、Fig5(Right)_1155_BB_Pt(Sum spectra)：可能为光谱数据文件
- Fig5(Left)_1155_BB_Sb2Te3(Sum spectra).cif、Fig5(RighT)_1155_BB_Pt(Sum spectra).cif：CIF格式文件，可能包含晶体结构数据
- 图像文件（.png格式，共3个）：
- Fig6_TEM_Co_Sb2TE3.png、Fig2(b)_AFMofCo-SbTe.png、Fig2(a)_AFM-Sb2Te3.png：图片文件，对应透射电子显微镜（TEM）、原子力显微镜（AFM）表征结果
适用场景
- 材料科学研究：分析超薄Co层在拓扑绝缘体Sb2Te3上的ALD生长行为与结构表征
- 表面物理研究：探究Sb2Te3基底与Co层的界面特性及生长机制
- 实验数据复现：支持相关论文图表结果的验证与二次分析
- 表征技术应用：研究X射线反射率、GIXRD、AFM、TEM等技术在薄膜材料表征中的应用
