数据集概述
本数据集是论文"Wettability alteration of microfluidic devices by in situ plasma"的配套数据，包含接触角测量（随处理时间和老化变化）和XPS光谱两类实验数据，共9个文件，均为.xlsx格式，无目录结构。数据用于支持微流控器件经等离子体原位处理后的润湿性改变研究。
文件详解
- 接触角测量文件
- 文件名称：CA_treatment time.xlsx、CA aging.xlsx
- 文件格式：XLSX
- 字段映射介绍：分别记录接触角随等离子体处理时间变化的测量数据、接触角随样品老化过程变化的测量数据
- XPS光谱文件
- 文件名称：XPS reporting 15kV sample 09.02.2024.xlsx、XPS reporting ref sample 09.02.2024.xlsx、XPS reporting 10kV sample 09.02.2024.xlsx、XPS reporting ref 4 sample 13.03.2024.xlsx、XPS reporting 5d sample 09.02.2024.xlsx、XPS reporting ref 4 sample N1s deconvolution 16.04.2024.xlsx
- 文件格式：XLSX
- 字段映射介绍：包含不同实验条件下（15kV处理、10kV处理、5d老化、参比样品等）的XPS光谱数据，其中N1s deconvolution文件为特定元素的分峰拟合数据
数据来源
论文"Wettability alteration of microfluidic devices by in situ plasma"
适用场景
- 微流控器件表面改性研究：分析等离子体原位处理对微流控器件润湿性的调控效果
- 材料表面科学实验：利用XPS数据研究等离子体处理后微流控器件表面的化学组成变化
- 润湿性时效分析：通过接触角老化数据探究处理后器件润湿性的长期稳定性
- 等离子体工艺优化：对比不同电压参数下的实验数据，优化等离子体处理工艺参数
