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DReaM_ALD_Based_500nm微通道ALD薄膜模拟厚度剖面数据_存档版
2026年1月15日 30 107 17
数据集概述 本数据集为原子层沉积(ALD)薄膜在500纳米高宽微通道中的模拟厚度剖面数据,对应PCCP 24(2022)期刊论文的图4内容。数据基于扩散反应模型生成,包含基线条件及单参数变量(如反应物分压、温度等)下的薄膜厚度剖面,以Excel和CSV格式存储,支持ALD沉积过程的参数影响分析。 文件详解 Excel文件 文件名称:DReaM-...
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