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标签: 半导体晶圆

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  • Carinthia半导体晶圆缺陷扫描电镜图像数据集

    2025年12月14日 30 28 12

    数据集概述 本数据集包含非结构化半导体晶圆某一生产层缺陷的扫描电镜（SEM）图像，共四千五百九十一幅图像，不均匀分布于六个缺陷类别，为半导体生产缺陷分析提供视觉数据支持。 文件详解 文件名称: data.zip：压缩包格式，包含所有半导体晶圆缺陷的扫描电镜图像数据。 文件名称:...
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  • Carinthia_S_Dataset_Based_半导体晶圆缺陷SEM图像分析完整数据

    2025年12月11日 30 37 8

    数据集概述 该数据集是原始Carinthia数据集的增强版本，包含非结构化半导体晶圆单一生产层缺陷的扫描电子显微镜（SEM）图像，以及每个缺陷图像对应的专家验证二进制分割掩码。数据集共四千五百九十一组图像与掩码对，不均匀分布在六个缺陷类别中。 文件详解 文件名称: data.zip：压缩文件格式，包含所有SEM缺陷图像及其对应的分割掩码文件。...
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