找到3个数据集

标签: 缺陷类别

过滤结果

  • Carinthia半导体晶圆缺陷扫描电镜图像数据集

    2025年12月14日 30 146 58

    数据集概述 本数据集包含非结构化半导体晶圆某一生产层缺陷的扫描电镜（SEM）图像，共四千五百九十一幅图像，不均匀分布于六个缺陷类别，为半导体生产缺陷分析提供视觉数据支持。 文件详解 文件名称: data.zip：压缩包格式，包含所有半导体晶圆缺陷的扫描电镜图像数据。 文件名称:...
    packageimg

  • Carinthia_S_Dataset_Based_半导体晶圆缺陷SEM图像分析完整数据

    2025年12月11日 30 65 26

    数据集概述 该数据集是原始Carinthia数据集的增强版本，包含非结构化半导体晶圆单一生产层缺陷的扫描电子显微镜（SEM）图像，以及每个缺陷图像对应的专家验证二进制分割掩码。数据集共四千五百九十一组图像与掩码对，不均匀分布在六个缺陷类别中。 文件详解 文件名称: data.zip：压缩文件格式，包含所有SEM缺陷图像及其对应的分割掩码文件。...
    packageimg

  • SoliDAIR_Based_四类别缺陷分类潜在特征数据

    2025年12月6日 30 133 93

    文件详解 README_BRO.txt: TXT格式，说明文档，介绍数据集基于UC BRO图像的潜在表示构建，包含终端测试设备数据、四类样本（0类合格，其余三类为不同缺陷）及数据存储形式。 Solidair_BRO_latents.7z: 7z格式，压缩文件，可能包含潜在表示的数据数组，用于机器学习分类模型的训练与评估。...
    packageimg